E-lab infrastructure

Микроскоп

  • Mark/Model

    Olympus BX53M

  • Year of release

    2016

  • Quantity

    1

  • Country of origin

    Япония

  • Types of work

    На микроскопе Olympus BX53M в лаборатории покрытий можно проводить анализ микроструктуры покрытий, выявлять пористость, включения и дефекты, оценивать равномерность и толщину слоя, исследовать границу раздела между покрытием и подложкой, а также признаки трещинообразования и разрушения после механических или термических испытаний. Он позволяет сравнивать результаты различных технологий нанесения покрытий и фиксировать изображения для отчётной документации. Благодаря высокой оптической чёткости и разнообразию режимов освещения, BX53M особенно эффективен при работе с поперечными шлифами и тонкими покрытиями.

  • Main technical characteristics

    это отражённый световой микроскоп с оптической системой UIS2, обеспечивающей высокое качество изображения и точную цветопередачу. Он оснащён светодиодным освещением для яркого поля, тёмного поля, поляризации и смешанных режимов наблюдения. Микроскоп имеет тринокулярную голову с широким полем зрения и поддерживает установку цифровой камеры. Револьвер на 5 объективов допускает использование линз с увеличением от 5× до 100×. Фокусировка точная, с шагом до 1 мкм, ход – около 25 мм. Подходит для работы с образцами высотой до 65–75 мм в отражённом свете.

  • Scope of application

    Лаборатории материаловедения, металлографии, исследовательские центры, предприятия по обработке металлов.

  • Operating instructions

    None

  • Phone number

    87474263019

  • Email

    magazovn@gmail.com

Submit an application
To request the use of the facility, fill out the application form by clicking on the "Submit application" button. Representatives of the organization that placed this object will contact you to clarify the details. If you have not received a response, please contact the specified contacts.

Other facilities