Сканирующая электроннаая микроскопия (SEM)
-
Mark/Model
Модель NANOS-SEM+EDS.
-
Year of release
2025
-
Quantity
1
-
Country of origin
Germany
-
Types of work
Исследование микроструктуры и элементного состава материалов методом SEM-EDS.
-
Main technical characteristics
Настольный сканирующий электронный микроскоп (SEM) с интегрированной системой энергодисперсионного рентгеновского анализа (EDS), предназначенный для получения высокоразрешающих изображений поверхности образцов и определения их элементного состава. Увеличение — до 200 000×, разрешение — менее 8–10 нм, ускоряющее напряжение — 1–20 кВ, встроенные детекторы SE, BSE и EDS, поддержка режимов высокого и низкого вакуума.
-
Scope of application
Используется для исследования морфологии, микроструктуры и элементного состава материалов в области материаловедения, металлургии, геологии, нанотехнологий, электроники, химии, биологии, экологии, нефтегазовой промышленности, а также при проведении научных исследований и контроля качества продукции.
-
Operating instructions
имеется
-
Name of the organization
Некоммерческое акционерное общество «Каспийский университет технологий и инжиниринга имени Ш.Есенова»
-
Scope of application
Technical and engineering sciences
-
Type of infrastructure
Scientific, educational
-
Infrastructure subtype
Universities
-
Price
92240000/ Week
-
Phone number
8 (7292)788-788(258)
-
Email
akmaral.koishina@yu.edu.kz