Olympus BX53M

2016

1

Япония

На микроскопе Olympus BX53M в лаборатории покрытий можно проводить анализ микроструктуры покрытий, выявлять пористость, включения и дефекты, оценивать равномерность и толщину слоя, исследовать границу раздела между покрытием и подложкой, а также признаки трещинообразования и разрушения после механических или термических испытаний. Он позволяет сравнивать результаты различных технологий нанесения покрытий и фиксировать изображения для отчётной документации. Благодаря высокой оптической чёткости и разнообразию режимов освещения, BX53M особенно эффективен при работе с поперечными шлифами и тонкими покрытиями.

это отражённый световой микроскоп с оптической системой UIS2, обеспечивающей высокое качество изображения и точную цветопередачу. Он оснащён светодиодным освещением для яркого поля, тёмного поля, поляризации и смешанных режимов наблюдения. Микроскоп имеет тринокулярную голову с широким полем зрения и поддерживает установку цифровой камеры. Револьвер на 5 объективов допускает использование линз с увеличением от 5× до 100×. Фокусировка точная, с шагом до 1 мкм, ход – около 25 мм. Подходит для работы с образцами высотой до 65–75 мм в отражённом свете.

Лаборатории материаловедения, металлографии, исследовательские центры, предприятия по обработке металлов.

None