E-lab инфрақұрылымы

Сканирующая электроннаая микроскопия (SEM)

  • Маркасы / моделі

    Модель NANOS-SEM+EDS.

  • Шығарылған жылы

    2025

  • Саны

    1

  • Өндіруші ел

    Германия

  • Жұмыс түрлері

    Исследование микроструктуры и элементного состава материалов методом SEM-EDS.

  • Негізгі техникалық сипаттамалары

    Настольный сканирующий электронный микроскоп (SEM) с интегрированной системой энергодисперсионного рентгеновского анализа (EDS), предназначенный для получения высокоразрешающих изображений поверхности образцов и определения их элементного состава. Увеличение — до 200 000×, разрешение — менее 8–10 нм, ускоряющее напряжение — 1–20 кВ, встроенные детекторы SE, BSE и EDS, поддержка режимов высокого и низкого вакуума.

  • Қолдану саласы

    Используется для исследования морфологии, микроструктуры и элементного состава материалов в области материаловедения, металлургии, геологии, нанотехнологий, электроники, химии, биологии, экологии, нефтегазовой промышленности, а также при проведении научных исследований и контроля качества продукции.

  • Пайдалану жөніндегі нұсқаулық

    имеется

  • Ұйымның атауы

    Некоммерческое акционерное общество «Каспийский университет технологий и инжиниринга имени Ш.Есенова»

  • Қолдану саласы

    Техникалық және инженерлік ғылымдар

  • Инфрақұрылым түрі

    Ғылыми, білім беру

  • Инфрақұрылымның кіші түрі

    ЖОО-лар

  • Бағасы

    92240000/ Апта

  • Телефон

    8 (7292)788-788(258)

  • Email

    akmaral.koishina@yu.edu.kz

Өтініш беру
Нысанды пайдалануды сұрау үшін "Өтінім беру" түймесін басу арқылы өтінім нысанын толтырыңыз. Осы нысанды орналастырған ұйымның өкілдері мәліметтерді нақтылау үшін сізбен байланысады. Егер жауап алмасаңыз, көрсетілген контактілерге хабарласыңыз.

Басқа нысандар