DW-XRD-27MINI

1

Анализ фазового состава: Определение фаз и их относительного содержания в образце.Идентификация кристаллической структуры: Определение пространственной решетки и параметров кристаллической структуры.Анализ кристалличности: Оценка степени кристалличности и аморфности материала.Текстурный анализ: Изучение ориентации кристаллов в поликристаллических материалах.Определение размера кристаллитов: Исследование размеров кристаллитов и микронапряжений.Изучение тонкопленочных материалов: Анализ структуры тонких плёнок и многослойных структур.

Источник излучения: Рентгеновская трубка с медным анодом (Cu Kα). Диапазон углов: 2θ от 10° до 80° (обычно), может варьироваться в зависимости от модели. Размер образца: Максимальный размер зависит от конфигурации держателя образца, обычно до 10 мм. Разрешение: Высокое разрешение за счёт использования детектора с высокой чувствительностью. Время измерения: От нескольких минут до нескольких часов в зависимости от требуемой точности и типа образца. Масса и габариты: Портативный и компактный дизайн, масса обычно до 10-15 кг. Программное обеспечение: Специальное ПО для обработки и анализа данных, совместимое с различными операционными системами.

Химия, материаловедения, физика твердого тела, геология и минералогия, нанотехнологии, металлургия

имеется