E-labs инфрақұрылымы

Универсальный двухканальный спектральный эллипсометр

  • Маркасы / моделі

    "Эльф"

  • Шығарылған жылы

    2011

  • Саны

    1

  • Өндіруші ел

    Ресей

  • Жұмыс түрлері

    для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглощения) на различных типах поверхностей в УФ и видимом диапазоне длин волн (250 - 850 нм.).

  • Қолдану саласы

    Жаратылыстану ғылымдары

  • Негізгі техникалық сипаттамалары

    Диапазон длин волн 270 – 1000 нм Спектральное разрешение 3- 4 нм Воспроизводимость и стабильность при измерении эллипсометрических угловых параметров без микроприставки: в диапазоне длин волн 400-1000 нм - не хуже 0,01 град. Точность: по толщине – не хуже 0,1 нм *) по показателю преломления – 0,001 *) Угол падения светового луча 45 – 90 град. с интервалом 2,5 град. Диапазон толщин 0,1 нм – 5 мкм *) Диаметр светового луча 3 мм (200 мкм с микроприставкой) Время измерения спектра 0,3-2 сек Дискретность измерения спектра 400 точек

  • Қолдану саласы

    Может использоваться в научно-исследовательских и учебных целях, а также для осуществления контроля качества в промышленных лабораториях.

  • Пайдалану жөніндегі нұсқаулық

    не указано

  • Ұйымның атауы

    Zhubanov University

  • Қолдану саласы

    Жаратылыстану ғылымдары

  • Қала

    Ақтөбе

  • Инфрақұрылым түрі

    Ғылыми, білім беру

  • Инфрақұрылымның кіші түрі

    ЖОО-лар

  • Зертхана
    Микроскопиялық материалдарды талдау
  • Телефон

    87084710521

  • Email

    admissions@zhubanov.edu.kz

Өтініш беру
Нысанды пайдалануды сұрау үшін "Өтінім беру" түймесін басу арқылы өтінім нысанын толтырыңыз. Осы нысанды орналастырған ұйымның өкілдері мәліметтерді нақтылау үшін сізбен байланысады. Егер жауап алмасаңыз, көрсетілген контактілерге хабарласыңыз.

Басқа нысандар