Электронный растровый микроскоп с анализатором
-
Маркасы / моделі
JEOL JXA-8230
-
Шығарылған жылы
2010
-
Саны
1
-
Өндіруші ел
Жапония
-
Жұмыс түрлері
Электронный растровый микроскоп с анализатором, предназначен для исследования структуры и рельефа поверхности минералов, продуктов металлургического передела, металлов, сплавов и других материалов; для анализа элементного состава образца, определения концентраций элементов в материале или соединении, картирования распределения элементов и других задач, таких, например, как определение среднего атомного номера в микро- и макрообластях образца.
-
Негізгі техникалық сипаттамалары
Технические характеристики: - разрешающая способность во вторичных электронах: не хуже 6 нм; диапазон увеличений: от 40x до 300 000x; максимальный ток электронного зонда: 10-5 A; стабильность тока зонда: не хуже, чем ±0,05%,час и ±0,3%, 12 часов; оптический микроскоп для наблюдения образцов в проходящем свете; 2 волнодисперсионных спектрометра с диапазоном регистрируемых элементов от 5B до 92U; энергодисперсионный спектрометр (10 мм2), для регистрации элементов от 4Be до 92U; возможно проведение качественного анализа, количественного анализа, полуколичественного анализа, анализа методом калибровочных кривых, анализа вдоль линии (профилирование), измерение линейных размеров, поэлементное картирование; универсальный вакуумный пост для пробоподготовки.
-
Қолдану саласы
Микроанализаторы электронно-зондовые JXA-8230 (далее - микроанализаторы JXA-8230) предназначены для локальных измерений массовой доли элементов от бериллия до урана в различных твердых (монолитных) веществах и материалах в соответствии с аттестованными методиками (методами) измерений (при использовании в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений), получения изображения высокого качества во вторичных и отраженных электронах для исследования поверхности и анализа распределения элементов и их фаз.
-
Пайдалану жөніндегі нұсқаулық
Прибор позволяет расширить диапазон исследуемых объектов металлургического передела, с его помощью возможно исследование структуры поверхности вещества при больших увеличениях, выполнение анализа различных концентраций элементов (от 10 ppm до 100%) в малых объемах (1-5 мкм3) исследуемого вещества, определение изменения концентрации вещества вдоль линии, по площади, что позволит более глубоко проанализировать физико-химические процессы, протекающие в металлургических процессах и разработать новые технологии переработки металлургического сырья.
-
Ұйымның атауы
Акционерное общество "Институт металлургии и обогащения"
-
Қолдану саласы
Техникалық және инженерлік ғылымдар
-
Инфрақұрылым түрі
Ғылыми, білім беру
-
Инфрақұрылымның кіші түрі
Ғылыми ұйымдар
-
Телефон
+77272984502
-
Email
a.panichkin@imio.kz