Инфраструктура E-labs

Универсальный двухканальный спектральный эллипсометр

  • Марка/модель

    "Эльф"

  • Год выпуска

    2011

  • Количество

    1

  • Страна-производитель

    Россия

  • Виды работ

    для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглощения) на различных типах поверхностей в УФ и видимом диапазоне длин волн (250 - 850 нм.).

  • Область применения

    Естественные науки

  • Основные технические характеристики

    Диапазон длин волн 270 – 1000 нм Спектральное разрешение 3- 4 нм Воспроизводимость и стабильность при измерении эллипсометрических угловых параметров без микроприставки: в диапазоне длин волн 400-1000 нм - не хуже 0,01 град. Точность: по толщине – не хуже 0,1 нм *) по показателю преломления – 0,001 *) Угол падения светового луча 45 – 90 град. с интервалом 2,5 град. Диапазон толщин 0,1 нм – 5 мкм *) Диаметр светового луча 3 мм (200 мкм с микроприставкой) Время измерения спектра 0,3-2 сек Дискретность измерения спектра 400 точек

  • Область применения

    Может использоваться в научно-исследовательских и учебных целях, а также для осуществления контроля качества в промышленных лабораториях.

  • Инструкция по эксплуатации

    не указано

  • Наименование организации

    Zhubanov University

  • Область применения

    Естественные науки

  • Город

    Актобе

  • Тип инфраструктуры

    Научная, образовательная

  • Подтип инфраструктуры

    ВУЗы

  • Лаборатория
    Анализ микроскопических материалов
  • Телефон

    87084710521

  • Email

    admissions@zhubanov.edu.kz

Подать заявку
Для запроса на использование объекта, заполните форму заявки, нажав на кнопку "Подача заявки".Представители организации, разместившие этот объект, свяжутся с вами для уточнения деталей.
Если не получили ответ, пожалуйста, обратитесь по указанным контактам.

Другие объекты