Инфраструктура E-lab

Настольный сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM-7000

  • Марка/модель

    JSM-7000

  • Год выпуска

    2024

  • Количество

    1

  • Страна-производитель

    Япония

  • Виды работ

    Высокоточное изображение поверхности объектов на микронном и субмикронном уровне; Анализ морфологии, топографии, структуры; Элементный химический анализ (с помощью EDS); Измерение размеров частиц, пор, трещин и интерфейсов.

  • Основные технические характеристики

    Особенности: -универсальность использования в различных областях науки и отраслях промышленности; -компактность и быстрота проведения микроструктурных исследований и их анализа; -отсутствие необходимости сложной пробоподготовки образцов; -поддержка низкого вакуума; -встроенный EDS для элементного анализа; Характеристики: -увеличение: от 10x до 100 000x; -ускоряющее напряжение: 5, 10, 15 кВ; -режимы наблюдения: обратнорассеянные электроны, вторичные электроны; -низкий вакуум: есть (обратнорассеянные электроны); -источник электронов: вольфрамовый катод / цилиндр Венельта; -предметный столик: моторизированное управление по осям X (40 мм) и Y (40 мм); -максимальный диаметр образца: 80 мм; -максимальная высота образца: 50 м;

  • Область применения

    Электронный микроскоп имеет широкое использование в металловедении и фрактографии и он незаменим в исследованиях сложнолегированных сталей, в том числе железных, хромовых и необиевых соединениях, картирования элементного состава. Опциональная возможность оборудования низким вакуумом для исследования живых организмов, растений, полимеров, минералов, а также пищевой продукции.

  • Инструкция по эксплуатации

    имеется

  • Телефон

    87085550480

  • Email

    technopark.stroytech@satbayev.university

Подать заявку
Для запроса на использование объекта, заполните форму заявки, нажав на кнопку "Подача заявки".Представители организации, разместившие этот объект, свяжутся с вами для уточнения деталей.
Если не получили ответ, пожалуйста, обратитесь по указанным контактам.

Другие объекты