Инфраструктура E-lab

Сканирующая электроннаая микроскопия (SEM)

  • Марка/модель

    Модель NANOS-SEM+EDS.

  • Год выпуска

    2025

  • Количество

    1

  • Страна-производитель

    Германия

  • Виды работ

    Исследование микроструктуры и элементного состава материалов методом SEM-EDS.

  • Основные технические характеристики

    Настольный сканирующий электронный микроскоп (SEM) с интегрированной системой энергодисперсионного рентгеновского анализа (EDS), предназначенный для получения высокоразрешающих изображений поверхности образцов и определения их элементного состава. Увеличение — до 200 000×, разрешение — менее 8–10 нм, ускоряющее напряжение — 1–20 кВ, встроенные детекторы SE, BSE и EDS, поддержка режимов высокого и низкого вакуума.

  • Область применения

    Используется для исследования морфологии, микроструктуры и элементного состава материалов в области материаловедения, металлургии, геологии, нанотехнологий, электроники, химии, биологии, экологии, нефтегазовой промышленности, а также при проведении научных исследований и контроля качества продукции.

  • Инструкция по эксплуатации

    имеется

  • Наименование организации

    Некоммерческое акционерное общество «Каспийский университет технологий и инжиниринга имени Ш.Есенова»

  • Область применения

    Технические и инженерные науки

  • Тип инфраструктуры

    Научная, образовательная

  • Подтип инфраструктуры

    ВУЗы

  • Цена

    92240000/ Неделя

  • Телефон

    8 (7292)788-788(258)

  • Email

    akmaral.koishina@yu.edu.kz

Подать заявку
Для запроса на использование объекта, заполните форму заявки, нажав на кнопку "Подача заявки".Представители организации, разместившие этот объект, свяжутся с вами для уточнения деталей.
Если не получили ответ, пожалуйста, обратитесь по указанным контактам.

Другие объекты