Empyrean (PANalytical)

2015

1

Netherlands

Классический фазовый анализ с высочайшей скоростью и точностью детектирования.  Определение, уточнение параметров элементарной ячейки.  Определение фаз по слоям.  Микродифракция.  Анализ текстуры, построение полюсных фигур.  Определение напряжений и размера кристаллитов.  Анализ тонких и очень тонких пленок, многослойных покрытий.  Анализ эпитаксиальных пленок, высокоупорядоченных структур, анализ кривых качания, построение карт обратного пространства, оценка совершенства структур.  Анализ монокристаллов.  Рефлектометрия, определение толщины и плотности слоев.  Анализ наноразмерных порошков и материалов.  Малоугловоерассеяние рентгеновских лучей SAXS (SmallangleX-rayscattering), анализ размерного распределения наночастиц.  Дифракция в плоскости (in-plane дифракция).  Проведение исследований в экстремальных условиях обработки.  Определение фазовых переходов при изменении параметров кристаллическойнаноструктуры.  Кластерный анализ. Томографическое сканирование, построение и отображение 3D-проекций внутренней структуры веществ (дефектоскопия).

Определение фазовых и структурных составляющих любых материалов.

Металлургия

Позволяет решать все возможные на сегодняшний день задачи рентгеновской дифрактометрии (определение фазового и химического состава, интенсивности и межплоскостного расстояния кристаллической решетки и др.). Используется в дисциплинах «Рентегнография», «Современные методы исследований», способствует приобретению компетенций в области структурного анализа.