Универсальный двухканальный спектральный эллипсометр
-
Mark/Model
"Эльф"
-
Year of release
2011
-
Quantity
1
-
Country of origin
Russia
-
Types of work
для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглощения) на различных типах поверхностей в УФ и видимом диапазоне длин волн (250 - 850 нм.).
-
Scope of application
Natural sciences
-
Main technical characteristics
Диапазон длин волн 270 – 1000 нм Спектральное разрешение 3- 4 нм Воспроизводимость и стабильность при измерении эллипсометрических угловых параметров без микроприставки: в диапазоне длин волн 400-1000 нм - не хуже 0,01 град. Точность: по толщине – не хуже 0,1 нм *) по показателю преломления – 0,001 *) Угол падения светового луча 45 – 90 град. с интервалом 2,5 град. Диапазон толщин 0,1 нм – 5 мкм *) Диаметр светового луча 3 мм (200 мкм с микроприставкой) Время измерения спектра 0,3-2 сек Дискретность измерения спектра 400 точек
-
Scope of application
Может использоваться в научно-исследовательских и учебных целях, а также для осуществления контроля качества в промышленных лабораториях.
-
Operating instructions
не указано
-
Name of the organization
Zhubanov University
-
Scope of application
Natural sciences
-
City
Aktobe
-
Type of infrastructure
Scientific, educational
-
Infrastructure subtype
Universities
-
Laboratory
Analysis of microscopic materials
-
Phone number
87084710521
-
Email
admissions@zhubanov.edu.kz