Настольный дифрактометр AXRD BENCHTOP

2025

1

Жапония

Рентгеновские порошковые дифрактометры

Улучшение Ваших научных разработок с порошковым настольным дифрактометром AXRD. Настольный дифрактометр AXRD простой в использовании и обеспечивает точные и надежные результаты измерений. Настольный AXRD оснащен мощным гибридным пиксельным детектором и имеет чрезвычайно быстрые возможности сбора данных. Сканирование образца с низким разрешением до 3-х минут. Сканирование с высоким разрешением от 15 до 30 минут. Невероятное малоугловое рассеяния, с отличными пиками всего 1º. Рентгеновская трубка мощностью 600 Вт, позволяет определить ширину на полувысоте Full-width at half-maximum с точностью <0.05º 2θ и положения пика <± 0.02º Δ2θ полного углового диапазона. AXRD Benchtop является недорогой альтернативой для порошковой дифракции. Сохраняя при этом необходимую производительность для самых требовательных рентгеноструктурных исследований. AXRD Benchtop очень удобство в работе при проведении качественного или количественного структурного анализа и простой в обслуживании. DECTRIS® HYBRID PIXEL DETECTOR - ВЫСОКАЯ СКОРОСТЬ СБОРА ДАННЫХ - Высокая скорость твердотельного линейного детектора - Одновременный многоканальный сбор позволяет производить сбор данных в 100 раз быстрее, чем сцинтилляционный счетчик. - Прямое обнаружение рентгеновских лучей с использованием технологии кремниевой полосы - скорость счета счетчика 1x109 импульсов / сек - высокая скорость сбора данных - размеры счетчика 64x8 мм - отличное соотношение сигнал-шум и очень высокий динамический диапазон - режим фильтрации флуоресцентного излучения NaI сцинтилляционный детектор - Доступное и точное измерение - Традиционный одноканальный детектор - Параллельно может быть установлен монохроматор на дифрагированного пучка для образцов с высокой флуоресценции (т.е. для образцов содержащих Fe и Co). Кремниевый твердотельный детектор - XRD и XRF в одном удобном пакете - одноканальный твердотельный детектор - рекомендуется для образцов с высокой флуоресценции (т.е. Fe и Co) - не требует монохроматора на дифрагированного пучка - возможность устранения Kβ составляющей излучения - возможность поиска модели кристаллической структуры по Kα1,2 или Kβ составляющей излучения - Использование XRF спектра для помощи при химической идентификации образца и улучшения результатов поиска кристаллической структуры. ТОЧНОСТЬ Наше комплексное программное обеспечение для сбора данных и анализа порошковых образцов является идеальным решением для проведения качественного и количественного анализа. Некоторые из уникальных особенностей программного обеспечения XRDWIN включают в себя: прогрев и контроль перед началом работы дифрактометр, сбор данных, разделение K1 2, сглаживание фона, поиск пиков, определения интенсивности пика для проведения количественного анализа, определения размера кристаллитов и напряжений. Также доступна ICDD база данных кристаллических структур. Мы предлагаем неограниченную поддержку программного обеспечения. ЛЕГКОСТЬ И УДОБСТВО ИСПОЛЬЗОВАНИЯ Настольный дифрактометер AXRD имеет особенности, которые делают его легким и удобным в использовании. Наклонная рентгеновская трубка предотвращает высыпание порошков за счет уменьшения угла наклона образца. Встроенное водяное охлаждение включает в себя бак, насос и теплообменник, которые интегрированы в дифрактометр AXRD, мощностью всего 600 ватт, то есть данный прибор, в отличие от других преставлена ​​на рынке, не требует внешнего охлаждения. Все системы оснащении сигнальными лампами безопасности (рентгеновское излучение, напряжение, охлаждение) для безопасности пользователя. Есть несколько вариантов установки щелей: анти различия, Сольер, анти рассеивающие, также доступна автоматическая система уменьшения различия выходного излучения. Есть несколько доступных держателей для образцов, что позволит удовлетворить все потребности Вашего исследования: 25 мм кольцо, Si кюветы различных форм, которые не дают фона.

Используется для фазового анализа, определения кристаллической структуры, остаточных напряжений и текстуры материалов в научных и промышленных исследованиях

Инструкции по эксплуатации на русском и английском языках