E-lab инфрақұрылымы

Сканирующий электронный микроскоп

  • Маркасы / моделі

    Hitachi TM 4000 Plus

  • Шығарылған жылы

    2017

  • Саны

    1

  • Өндіруші ел

    Жапония

  • Жұмыс түрлері

    Исследование поверхностной морфологии материалов; Анализ микроструктуры; Определение элементного состава с помощью EDS; Контроль качества, анализ изломов и дефектов.

  • Негізгі техникалық сипаттамалары

    Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Разрешение: до 4 нм Увеличение: от ×20 до ×100 000 Ускоряющее напряжение: 5 и 15 кВ (переключаемое) Детекторы: вторичных и обратноотражённых электронов

  • Қолдану саласы

    Материаловедение, машиностроение, микроэлектроника, нанотехнологии

  • Пайдалану жөніндегі нұсқаулық

    Имеется

  • Ұйымның атауы

    Институт Ядерной Физики

  • Қолдану саласы

    Жаратылыстану ғылымдары

  • Қала

    Алматы

  • Инфрақұрылым түрі

    Ғылыми, білім беру

  • Инфрақұрылымның кіші түрі

    Ғылыми ұйымдар

  • Зертхана
    Лаборатория радиационного материаловедения
  • Бағасы

    50000/ Күн

Өтініш беру
Нысанды пайдалануды сұрау үшін "Өтінім беру" түймесін басу арқылы өтінім нысанын толтырыңыз. Осы нысанды орналастырған ұйымның өкілдері мәліметтерді нақтылау үшін сізбен байланысады. Егер жауап алмасаңыз, көрсетілген контактілерге хабарласыңыз.

Басқа нысандар