Инфраструктура E-lab

Сканирующий электронный микроскоп

  • Марка/модель

    Hitachi TM 4000 Plus

  • Год выпуска

    2017

  • Количество

    1

  • Страна-производитель

    Япония

  • Виды работ

    Исследование поверхностной морфологии материалов; Анализ микроструктуры; Определение элементного состава с помощью EDS; Контроль качества, анализ изломов и дефектов.

  • Основные технические характеристики

    Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Разрешение: до 4 нм Увеличение: от ×20 до ×100 000 Ускоряющее напряжение: 5 и 15 кВ (переключаемое) Детекторы: вторичных и обратноотражённых электронов

  • Область применения

    Материаловедение, машиностроение, микроэлектроника, нанотехнологии

  • Инструкция по эксплуатации

    Имеется

  • Наименование организации

    Институт Ядерной Физики

  • Область применения

    Естественные науки

  • Город

    Алматы

  • Тип инфраструктуры

    Научная, образовательная

  • Подтип инфраструктуры

    Научные организации

  • Лаборатория
    Лаборатория радиационного материаловедения
  • Цена

    50000/ День

Подать заявку
Для запроса на использование объекта, заполните форму заявки, нажав на кнопку "Подача заявки".Представители организации, разместившие этот объект, свяжутся с вами для уточнения деталей.
Если не получили ответ, пожалуйста, обратитесь по указанным контактам.

Другие объекты