E-lab infrastructure

Дифрактометр с сверхвысокой разрешающей способностью

  • Mark/Model

    Дифрактометр с сверхвысокой разрешающей способностью

  • Year of release

    2025

  • Quantity

    1

  • Country of origin

    Japan

  • Types of work

    Рентгеновские порошковые дифрактометры

  • Main technical characteristics

    Рентгеновские дифрактометры супер высокого разрешения для тонких пленок и монокристаллических материалов ПРИМЕНЕНИЕ: РЕНТГЕНОВСКАЯ РЕФЛЕКТОМЕТРИЯ (XRR) аналитический метод исследования тонкослойных структур, поверхностей и границ раздела с использованием эффекта полного внешнего отражения рентгеновского излучения. В исследованиях по тонкопленочным материалам одной из прикладных задач рефлектометрии этого типа является создание сложных покрытий, обладающих специфическими свойствами, которые необходимы для ряда технических приложений. Достоинства рентгеновской рефлектометрии заключаются в том, что она позволяет определять: Шероховатость поверхностей и границ раздела сред (типичный размер неоднородностей – менее 5 нм), Толщину слоя материала (обычно для слоев тоньше 200 нм), Распределение плотности электронов, Внутреннее строение сложных структур. ПОЛУЧЕНИЯ КРИВОЙ КАЧАНИЯ (ROCKING CURVES) Позволяет получать зависимость интенсивнсти отражения от угла поворота кристалла. КАРТИРОВАНИЕ ОБРАТНОГО ПРОСТРАНСТВА Картирование обратного пространства представляет собой метод рентгеновской дифракции высокого разрешения для измерения карты обратного пространства (RSM). Эти карты вокруг точек обратной решетки позволяют получить дополнительную информацию, помимо информации, полученной по однолинейным спектрам, например, кривые качания с высоким разрешением. RSM обычно используются для интерпретации смещения пика, уширения пика или наложения пиков. ОПЦИИ • Многослойное паралельно пучковое зеркало • Германиевые монохроматоры с 2 и 4 отражениями • Ступень X, Y • Ступень наклона Rx, Ry • Eulerian Cradle с вращающимся phi • In-plane сканирующий детектор • Автоматическая щель переменного расхождения • Система автоматической юстировки - легко переключаться между различными настройками рентгеновского луча. • Ячейки для создания специальных сред • Держатели для образцов, чувствительные к воздуху

  • Scope of application

    Используется для фазового анализа, определения кристаллической структуры, остаточных напряжений и текстуры материалов в научных и промышленных исследованиях

  • Operating instructions

    Инструкции по эксплуатации на русском и английском языках

  • Name of the organization

    Товарищество с ограниченной ответственностью IC Lab

  • Scope of application

    Technical and engineering sciences

  • Type of infrastructure

    Scientific, educational

  • Infrastructure subtype

    Universities

  • Phone number

    87787751275

  • Email

    info@ic-lab.kz

Submit an application
To request the use of the facility, fill out the application form by clicking on the "Submit application" button. Representatives of the organization that placed this object will contact you to clarify the details. If you have not received a response, please contact the specified contacts.

Other facilities