Nanos

2026

1

Netherlands

компактный аналитический прибор, предназначенный для высокодетализированной визуализации структуры материалов и проведения элементного химического анализа непосредственно в процессе съёмки.

• Разрешение: менее 8 нм. • Диапазон увеличения СЭМ: от 100× до 200 000×. • Источник электронов: оптимизированный термоэмиссионный вольфрамовый катод. • Ускоряющее напряжение: регулируемое в диапазоне от 1 до 20 кВ (фиксированные шаги: 1, 2, 5, 7, 10, 15 и 20 кВ). • Система детекторов: • Детектор вторичных электронов (SED) — для исследования топографии и морфологии поверхности. • 4-квадрантный детектор обратно-рассеянных электронов (BSD) — обеспечивает фазовый (композиционный) контраст. • Встроенная цветная оптическая камера — для быстрой навигации по образцу.

Материаловедение и металлургия

Подготовка и установка образца 1. Закрепите образец на стандартном алюминиевом столике (держателе) с помощью токопроводящей углеродной или неорганической ленты. 2. Изучите образец на встроенной оптической камере навигации, чтобы зафиксировать его положение. 3. Поместите держатель в шлюз камеры микроскопа. 2. Создание вакуума 1. Закройте дверцу камеры образцов. 2. В программном обеспечении нажмите кнопку «Evacuate» (Откачка). 3. Дождитесь автоматического завершения процесса (индикатор станет зеленым, обычно это занимает менее 3 минут). 3. Получение изображения (СЭМ) 1. Выберите необходимое ускоряющее напряжение (от 1 до 20 кВ в зависимости от типа материала). 2. Нажмите кнопку «Beam On» для включения электронного пучка. 3. С помощью мыши или джойстика выберите интересующую область на оптической карте. 4. Настройте фокус, контраст и яркость (доступна функция автоматической настройки Auto-Focus / Auto-Contrast). 5. Переключайтесь между детекторами вторичных (SED — для рельефа) или обратно-рассеянных (BSD — для разницы составов) электронов. 4. Проведение элементного анализа (EDS) 1. Перейдите во вкладку программного обеспечения «EDS» (анализ не требует перестановки образца). 2. Выберите режим: Point (анализ в точке), Line (вдоль линии) или Map (карта распределения элементов). 3. Нажмите «Start» для сбора спектра. Система в реальном времени начнет определять химические элементы и их концентрацию. 4. Сохраните полученные графики и карты элементов. 5. Выключение и извлечение образца 1. Выключите электронный пучок, нажав «Beam Off». 2. Нажмите кнопку «Vent» (Напуск воздуха) для разгерметизации камеры. 3. Аккуратно откройте дверцу и извлеките образец.