E-lab infrastructure

Сканирующий электронный микроскоп

  • Mark/Model

    Hitachi TM 4000 Plus

  • Year of release

    2017

  • Quantity

    1

  • Country of origin

    Japan

  • Types of work

    Исследование поверхностной морфологии материалов; Анализ микроструктуры; Определение элементного состава с помощью EDS; Контроль качества, анализ изломов и дефектов.

  • Main technical characteristics

    Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Разрешение: до 4 нм Увеличение: от ×20 до ×100 000 Ускоряющее напряжение: 5 и 15 кВ (переключаемое) Детекторы: вторичных и обратноотражённых электронов

  • Scope of application

    Материаловедение, машиностроение, микроэлектроника, нанотехнологии

  • Operating instructions

    Имеется

Submit an application
To request the use of the facility, fill out the application form by clicking on the "Submit application" button. Representatives of the organization that placed this object will contact you to clarify the details. If you have not received a response, please contact the specified contacts.

Other facilities